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介電常數(shù)測試儀低頻參數(shù)

來源:技術(shù)文章    更新時間:2015-09-28    瀏覽:2941次

介電常數(shù)測試儀由高頻阻抗分析儀、測試裝置,標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品組成,能對絕緣材料進(jìn)行

高低頻介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角(Dtanδ) 的測試。它符合國標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及

IEC60250規(guī)范要求。

      GDAT 系列介電常數(shù)測試儀工作頻率范圍是20Hz1MHz,它能完成工作頻率內(nèi)對絕緣材料的相對介

電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角 (Dtanδ)變化的測試。

  GDAT系列中測試裝置是由平板電容器組成,平板電容器一般用來夾被測樣品,配用高頻阻抗分析

儀作為指示儀器。絕緣材料的介電常數(shù)和損耗值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的D(損耗

值)變化和Cp(電容值)讀數(shù)通過公式計算得到。

1 特點(diǎn):


 高頻阻抗分析儀電容值Cp分辨率0.00001pF6D值顯示,保證了εD值精度和重復(fù)性。

 介電常數(shù)測量范圍可達(dá)1~105

2 主要技術(shù)指標(biāo):

2.1 ε和D性能:

2.1.1 固體絕緣材料測試頻率20Hz1MHzεD變化的測試。
2.1.2 εD測量范圍:ε1105,D0.10.00005,
2.1.3 εD測量精度(10kHz):ε±2% ,  D±5%±0.0001。

2.2高頻阻抗分析儀和數(shù)字電橋

型號

GDAT-S

工作頻率范圍

20Hz~1MHz

數(shù)字合成,精度:±0.02%

電容測量范圍

0.00001pF~9.99999F

六位數(shù)顯

電容測量基本誤差

±0.05%

損耗因素D值范圍

0.00001~9.99999

六位數(shù)顯





高頻介質(zhì)樣品(選購件):

    在現(xiàn)行高頻介質(zhì)材料檢定系統(tǒng)中,檢定部門為高頻介質(zhì)損耗測量儀提供的測量標(biāo)準(zhǔn)是高頻標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品。該樣品由人工藍(lán)寶石,石英玻璃, 氧化鋁陶瓷,聚四氟乙烯,環(huán)氧板等材料做成Φ50mm,厚12mm測試樣品。用戶可按需訂購,以保證測試裝置的重復(fù)性和準(zhǔn)確性。

GDAT系列 介電常數(shù)測試儀配置

配置類型

標(biāo)準(zhǔn)型

電橋工作頻率范圍

20Hz~1MHz

精度:±0.02%

配置型號

高頻阻抗分析儀

三電極測試裝置

介電常數(shù)范圍

1-100

精度:±2%

損耗因素D值范圍

0.00001~9.99999

六位數(shù)顯



選購件:

    在現(xiàn)行高頻介質(zhì)材料檢定系統(tǒng)中,檢定部門為高頻介質(zhì)損耗測量儀提供的測量標(biāo)準(zhǔn)是高頻標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)

樣品。該樣品由人工藍(lán)寶石,石英玻璃, 氧化鋁陶瓷,聚四氟乙烯,環(huán)氧板等材料做成Φ50mm,厚

1~2mm測試樣品。用戶可按需訂購,以保證測試裝置的重復(fù)性和準(zhǔn)確性。

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