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發(fā)布時間: 2024-08-12
產(chǎn)品型號: GDAT-C
廠商性質(zhì): 生產(chǎn)廠家
所 在 地: 北京市海淀區(qū)上地科技園上地十街1號
產(chǎn)品特點: 滿足標準:GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法
滿足標準:GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法
主要技術(shù)特性
Q 值測量范圍 2 ~ 1023 , 量程分檔: 30 、 100 、 300 、 1000 ,自動換檔或手動換檔
固有誤差 ≤ 5 % ± 滿度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ), ≤6% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz)
工作誤差 ≤7% ± 滿度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz ), ≤8% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz)
電感測量范圍 | 4.5nH ~ 140mH |
電容直接測量范圍 | 1 ~ 200pF |
主電容調(diào)節(jié)范圍 | 18 ~ 220pF |
主電容調(diào)節(jié)準確度 | 100pF 以下 ± 1pF ; 100pF 以上 ± 1 % |
信號源頻率覆蓋范圍 | 100kHz ~ 160MHz |
頻率分段 ( 虛擬 ) | 100 ~ 999.999kHz , 1 ~ 9.99999MHz, 10 ~ 99.9999MHz , 100 ~ 160MHz |
頻率指示誤差 | 3 × 10 -5 ± 1 個字 |
GDAT高頻 Q 表作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達到目前高的160MHz。
介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復(fù)合材料等的一項重要的物理性質(zhì),通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε),可進一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素,為提高材料的性能提供依據(jù);儀器的基本原理是采用高頻諧振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制,測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定,標準頻率測試點自動設(shè)定,諧振點自動搜索,Q值量程自動轉(zhuǎn)換,數(shù)值顯示等新技術(shù),改進了調(diào)諧回路,使得調(diào)諧測試回路的殘余電感減至zui低,并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術(shù),使得新儀器在使用時更為方便,測量值更為精確。儀器能在較高的測試頻率條件下,測量高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介質(zhì)損耗,高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻,傳輸線的特性阻抗等。
該儀器用于科研機關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。
搭配了全新的介質(zhì)損耗裝置與GDAT系列q表搭配使用
BD916介質(zhì)損耗測試裝置與本公司生產(chǎn)的各款高頻Q表配套,可用于測量絕緣材料的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗系數(shù)(損耗角正切值)。
BD916介質(zhì)損耗測試裝置是BD916914的換代產(chǎn)品,它采用了數(shù)顯微測量裝置,因而讀數(shù)方便,數(shù)據(jù)精確。
BD916介質(zhì)損耗測試裝置技術(shù)特性 :
平板電容器: | 極片尺寸:Φ50mm/Φ38mm 可選 |
極片間距可調(diào)范圍: | ≥15mm |
夾具插頭間距: | 25mm±0.01mm |
夾具損耗正切值 | ≤4×10-4 (1MHz) |
測微桿分辨率: | 0.001mm |
電感:
線圈號 測試頻率 Q值 分布電容p 電感值
9 100KHz 98 9.4 25mH
8 400KHz 138 11.4 4.87mH
7 400KHz 202 16 0.99mH
6 1MHz 196 13 252μH
5 2MHz 198 8.7 49.8μH
4 4.5MHz 231 7 10μH
3 12MHz 193 6.9 2.49μH
2 12MHz 229 6.4 0.508μH
1 25MHz,50MHz 233,211 0.9 0.125μH
本儀器測試儀方法如下:
儀器的測試準備工作
先要詳細了解配用Q表的使用方法,操作時,要避免人體感應(yīng)的影響。
a. 把配用的Q表主調(diào)諧電容置于較小電容量。
b. 把本測試裝置上的夾具插頭插入到Q 表測試回路的“電容”兩個端子上。
c. 配上和測試頻率相適應(yīng)的高Q值電感線圈(本公司 Q表配套使用的LKI-1電感組能滿足要求), 如:1MHz 時電感取250uH,15MHz時電感取1.5uH。
d. 短按ON/OFF按鍵,打開液晶顯示屏。
e. 調(diào)節(jié)平板電容器測微桿,使平板電容器二極片相接為止,長按SET按鍵將初始值設(shè)置為0。
4.介電常數(shù)Σ的測試
a. 再松開二極片,把被測樣品插入二極片之間,調(diào)節(jié)平板電容器,到二極片夾住樣品止(注意調(diào)節(jié)時要用測微桿,以免夾得過緊或過松),這時能讀取的測試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值,既是樣品的厚度D2。改變Q 表上的主調(diào)電容容量,使Q 表處于諧振點上。
b. 取出平板電容器中的樣品,這時Q 表又失諧,此時調(diào)節(jié)平板電容器,使Q 表再回到諧振點上,讀取測試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值記為D4
c. 計算被測樣品的介電常數(shù):
Σ=D2 / D4
5.介質(zhì)損耗系數(shù)的測試
a. 重新把測試裝置上的夾具插頭插入到Q 表測試回路的“電容”兩個端上。把被測樣品插入二極片之間,改變Q 表上的主調(diào)電容容量,使Q 表處于諧振點上,讀得Q 值,記為Q2。電容讀數(shù)記為C2。
b. 取出平板電容器中的樣品,這時Q 表又失諧,再改變Q 表上的主調(diào)電容容量,使Q 表重新處于諧振點上。讀得Q 值,記為Q1。電容讀數(shù)記為C1。
c. 然后取下測試裝置,再改變Q 表上的主調(diào)電容容量,重新使之諧振,電容讀數(shù)記為C3,此時可計算得到測試裝置的電容為CZ = C3 -C1
d. 計算被測樣品的介質(zhì)損耗系數(shù)公式如下:
? ?
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?
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式中:CZ 為測試裝置的電容(平板電容器二極片間距為樣品的厚度D2)
C0 為測試電感的分布電容(參考LKI-1 電感組的分布電容值)
北廣公司其它絕緣材料檢測儀器:
BDJC-0-100KV 介電擊穿試驗儀
BDJC系列絕緣材料工頻率介電擊穿試驗儀
BDJC系列電壓介電強度試驗儀器
BDJC系列 電壓擊穿試驗儀
BDJC系列絕緣漆漆膜擊穿強度試驗儀
BDJC電容器紙工頻電壓擊穿試驗儀
EST-121 體積表面電阻率測定儀
GDAT-A介質(zhì)損耗測試儀/介電常數(shù)測試儀
GDAT-C新型介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀
BDH 耐漏電起痕試驗儀
BDH-B耐電弧試驗儀