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導熱硅脂工頻介電常數(shù)介質損耗測試儀

發(fā)布時間:  2024-08-16

產品型號:  BQS-37

產品報價:  

廠商性質:  生產廠家

所  在  地:  北京市海淀區(qū)上地科技園上地十街1號

產品特點:  導熱硅脂工頻介電常數(shù)介質損耗測試儀直徑為10cm或更大些,需要測低損耗因數(shù)值時,很重要的一點是導線串聯(lián)電阻引入損耗要盡可能地小。

厚度的選取決定于試樣的制備方法和各點間厚度的變化,對1%的精確度來講,1.5mm的厚度就足夠了。

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產品概述

導熱硅脂工頻介電常數(shù)介質損耗測試儀每一 00增檔0 容0V檔有量,十A51:二加共V5 ,

1 Ax01 m0a2Ωm≤× 010 1 

注:濕度的顯著影響常常發(fā)生在1MHz以下及微波頻率范圍內。

5ma1≤0 mx1  l0Ω  1  0×A

儀數(shù)介損要介常術擾工參干主抗技測頻電試數(shù)耗質

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高路壓保護·短

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保TC·V護過壓

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說壓電明作工

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導熱硅脂工頻介電常數(shù)介質損耗測試儀

量量范目量測圍測差測誤



最大的誤差來自試樣尺寸的誤差,尤其是試樣厚度的誤差,因此厚度應足夠大,以滿足測量所需要的精確度。


1RgxR C(ωgngC=n4+δt /或/ )C C UΔΔ+I//C

技的:特術輔性橋

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量pxF0F±0容5—電 02%p0p±2 C0C40x.F

橋3 31(值48 4Ω 阻歐 臂R  R姆)

其結果使電容率、介質損耗因數(shù)和直流電導率增大。因此試驗前和試驗時針對環(huán)境濕度進行控制是B不可少的。

變  ×數(shù)9圍變量C測019量VT比9::比:量%范 ~±讀 1度9測變比精測9

在較高的頻率下,只要電介質中不出現(xiàn)局部放電,電容率和介質損耗因數(shù)與電場強度無關。試樣和電極固體絕緣材料試樣的幾何形狀。

不101~V效值電真有(失宗根壓)

56不壓1在于0H低1敏×格時-電靈Vz0度/

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但是對于更高精確度,最好是采用較厚的試樣,例如6mm~12mm,測量厚度必須使測量點有規(guī)則地分布在整個試樣表面上。

1~F    .p50 0μp5μ.V kFk   高31 :0/ 6  0  外F施~F3V/ 壓


差量量測測誤項圍目范測量

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C容量43.F0±0F p5—0p %C0±xx電F2p

波于次諧d二 減小2B不5

且厚度均勻度在±1%內,如果材料的密度是已知的,則可用稱量法測定厚度。選取試樣的面積時應能提供滿足精度要求的試樣電容。

科對及該量具方的優(yōu)緣電g間、儀、;的有適t簡研確絕備單試單設位更、容 油用電耗量樣損試、器同驗 準、 便 室高點δ車測壓器。等測于

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測量10pF的電容時,使用有良好屏蔽保護的儀器,由于現(xiàn)有儀器的極限分辨能力約1pF,因此試樣應薄些。

電場強度存在界面極化時,自由離子的數(shù)目隨電場強度增大而增加,其損耗數(shù)量最大值的大小和位置也隨此而變。


電容品 )F p 值拉被Cx(測 試法  

 位      ±1 .      03 9度 °相圍      測精~0°測  9 量范 .量   : 5位:  相


時03C3(Ω) 41p1 F在 n R=0=8 .

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測定材料的電容率和介質損耗因數(shù),最好采用板狀試樣,也可采用管狀試樣。在測定電容率需要較高精度時。


 a5k1 x1 Ωm01×m 1≤  A

電橋量敏測靈度



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